教育人員版

一、初選鑑定時間：108年4月27日（星期六）當日上午8時30分集合報到，9時起進行測驗至測驗結束。
二、本次初選分為福星國小及建國國小兩個試場，請依試場分配表確認試場。
三、參加鑑定之學生，必須攜帶鑑定識別證並自備相關文具（2B鉛筆、軟性橡皮擦及透明墊板），入場後未達施測單位所訂定之鑑定完成時間不得出場，遲到10分鐘者不得入場。
四、本鑑定不開放試場查看。
五、檢附時程表及初選試場分配表(如附件)。

檔案清單	107資優方案鑑定初選預計施測時間.pdf 107資優方案初選試場分配(建國)-公告用.pdf 107資優方案初選試場分配(福星)-公告用.pdf